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痕量二氧化硫(SO2)分析仪
痕量二氧化硫(SO2)分析仪

痕量二氧化硫(SO2)分析仪43i-TLE 简介: 采用的脉冲荧光技术,对二氧化硫的测量下限可达到50ppt 采用脉冲紫外光源可提高光强,使仪器具有较高的紫外光能量,从而降低Z低检测限。43i-TLE所使用的反射式带通滤光片不同于以往所用的投射式滤光片,它可减少光化学降级,并且提高光选择性。这不仅改善了仪器的检测特性,而且提高了仪器的长期稳定性。

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